Spurenbestimmung metallischer Verunreinigungen in [gamma]TiAl und den hochreinen Ausgangsmaterialien Al und Ti mittels ICP-Massenspektrometrie

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Majewski, Tom: Spurenbestimmung metallischer Verunreinigungen in [gamma]TiAl und den hochreinen Ausgangsmaterialien Al und Ti mittels ICP-Massenspektrometrie. Hannover : Universität, Diss., 2002, 207 S.

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[no abstract]
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Publication type: DoctoralThesis
Publishing status: publishedVersion
Publication date: 2002
Keywords english: ICP-MS, gamma-TiAl, gamma titanium aluminides, aluminium, titanium, ultra trace analysis, trace matrix separation technique
DDC: 540 | Chemie

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