Entwicklung von Simulationsmethoden für die Bestimmung der Schirmdämpfung von realen Gerätegehäusen

Abstract

Aufgrund der Untersuchungen konnte festgestellt werden, dass es in vielen Bereichen eine gute Übereinstimmung von Messung und Simulation gibt, in einigen Frequenzbereichen gibt es jedoch größere Abweichungen. Der Grund für diese Differenzen muss in weiteren Untersuchungen bestimmt werden. Trotzdem kann das Simulationsmodell verwendet werden, um den Einfluss von verschiedenen Veränderungen des Gehäuses auf die Emission zu untersuchen. Bei niedrigen Frequenzen gibt es sowohl in der Messung als auch in der Simulation noch Verbesserungsbedarf. Es können am Messaufbau noch Veränderungen vorgenommen werden (Empfangsantenne, Messempfänger), um die Messdynamik bei niedrigen Frequenzen zu erhöhen. Auch in der Simulation können noch Parameter verändert werden (z.B. die räumliche Auflösung des Modells), um die Ergebnisse bei niedrigen Frequenzen zu verbessern. Im nächsten Schritt muss ein passendes Simulationsmodell der Leistungselektronik entwickelt werden. Dazu werden die für die Emission wichtigsten Strompfade der Leistungselektronik identifiziert und in der Simulation modelliert. Ein vollständiges Modell der Leistungselektronik wäre für die Simulation zu komplex, somit müssen Vereinfachungen vorgenommen werden. Die Emission der Leistungselektronik wird durch einige solcher Strompfade nachgebildet, wobei jeder Strompfad über einen Strom mit einem anderen Spektrum verfügt. Das Spektrum des Stromes wird aus Schaltungssimulationen (z.B. mit LT-Spice) der Leistungselektronik gewonnen. In die Quelle des Strompfades kann entweder ein Signal im Zeitbereich eingespeist werden oder es wird ein breitbandiges Signal verwendet, welches nach der Berechnung mit dem Spektrum des Stromes multipliziert wird. Die Methodik der Modellierung der Emission der Leistungselektronik muss jedoch noch durch Vergleich mit entsprechenden Messungen validiert werden.