Jia, Jin; Zeichner, Alexander; Rinas, Denis; Frei, Stephan
(Berlin : VDE-Verlag, 2014)
Um die Entwicklungskosten von elektronischen Bauelementen in EMV Testphasen zu reduzieren, wurden alternative Strom-Scan Methoden im Frequenz- und im Zeitbereich bereits in früheren Arbeiten vorgestellt. Mit diesen Methoden ...