dc.identifier.uri |
http://dx.doi.org/10.15488/10047 |
|
dc.identifier.uri |
https://www.repo.uni-hannover.de/handle/123456789/10108 |
|
dc.contributor.author |
Schade, Alexander
|
|
dc.contributor.author |
Klotz, Frank
|
|
dc.contributor.author |
Jahn, Stefan
|
|
dc.contributor.author |
Weigel, Robert
|
|
dc.date.accessioned |
2020-09-08T14:58:09Z |
|
dc.date.available |
2020-09-08T14:58:09Z |
|
dc.date.issued |
2020 |
|
dc.identifier.citation |
Schade, Alexander; Klotz, Frank; Jahn, Stefan; Weigel, Robert: Modellierung und Messung von Emissionen an Transceiverpins in Automotive-System-ICs, verursacht durch integrierte DC/DC-Wandler. In: emv : Internationale Fachmesse und Kongress für Elektromagnetische Verträglichkeit, Köln, 2020, S. 365-374 |
ger |
dc.description.abstract |
Die Integration von DC/DC-Wandlern mit Transceivern in Automotive-System-ICs führt zu neuen Herausforderungen im Bezug auf die Einhaltung der Emissionsgrenzwerte an den Transceiverpins. An einem Test-IC werden die Emissionen des DC/DC-Wandlers an verschiedenen Transceiverpins ermittelt. Der Substratübertragungspfad wird mit Hilfe eines neuartigen Substratextraktors modelliert, und zur Beschreibung induktiver Bonddrahtkopplungen wird ein HFSS-Packagemodell verwendet. Der Vergleich zwischen Modellvorhersage und Messung zeigt typ. eine Abweichung von unter _6 dB bis 1 GHz. |
ger |
dc.language.iso |
ger |
|
dc.publisher |
Aachen : Apprimus |
|
dc.relation.ispartof |
https://doi.org/10.15488/10002 |
|
dc.relation.ispartofseries |
emv : Internationale Fachmesse und Kongress für Elektromagnetische Verträglichkeit, Köln, 2020 |
|
dc.rights |
CC BY 3.0 DE |
|
dc.rights.uri |
https://creativecommons.org/licenses/by/3.0/de/ |
|
dc.subject |
Transceiverpin |
ger |
dc.subject |
DC/DC-Wandler |
ger |
dc.subject |
Substratextraktor |
ger |
dc.subject.classification |
Konferenzschrift |
ger |
dc.subject.ddc |
600 | Technik
|
ger |
dc.subject.ddc |
621,3 | Elektrotechnik, Elektronik
|
ger |
dc.title |
Modellierung und Messung von Emissionen an Transceiverpins in Automotive-System-ICs, verursacht durch integrierte DC/DC-Wandler |
ger |
dc.type |
BookPart |
|
dc.type |
Text |
|
dc.relation.isbn |
978-3-86359-826-6 |
|
dc.bibliographicCitation.firstPage |
365 |
|
dc.bibliographicCitation.lastPage |
374 |
|
dc.description.version |
publishedVersion |
|
tib.accessRights |
frei zug�nglich |
|