Modellierung und Messung von Emissionen an Transceiverpins in Automotive-System-ICs, verursacht durch integrierte DC/DC-Wandler

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dc.identifier.uri http://dx.doi.org/10.15488/10047
dc.identifier.uri https://www.repo.uni-hannover.de/handle/123456789/10108
dc.contributor.author Schade, Alexander
dc.contributor.author Klotz, Frank
dc.contributor.author Jahn, Stefan
dc.contributor.author Weigel, Robert
dc.date.accessioned 2020-09-08T14:58:09Z
dc.date.available 2020-09-08T14:58:09Z
dc.date.issued 2020
dc.identifier.citation Schade, Alexander; Klotz, Frank; Jahn, Stefan; Weigel, Robert: Modellierung und Messung von Emissionen an Transceiverpins in Automotive-System-ICs, verursacht durch integrierte DC/DC-Wandler. In: emv : Internationale Fachmesse und Kongress für Elektromagnetische Verträglichkeit, Köln, 2020, S. 365-374 ger
dc.description.abstract Die Integration von DC/DC-Wandlern mit Transceivern in Automotive-System-ICs führt zu neuen Herausforderungen im Bezug auf die Einhaltung der Emissionsgrenzwerte an den Transceiverpins. An einem Test-IC werden die Emissionen des DC/DC-Wandlers an verschiedenen Transceiverpins ermittelt. Der Substratübertragungspfad wird mit Hilfe eines neuartigen Substratextraktors modelliert, und zur Beschreibung induktiver Bonddrahtkopplungen wird ein HFSS-Packagemodell verwendet. Der Vergleich zwischen Modellvorhersage und Messung zeigt typ. eine Abweichung von unter _6 dB bis 1 GHz. ger
dc.language.iso ger
dc.publisher Aachen : Apprimus
dc.relation.ispartof https://doi.org/10.15488/10002
dc.relation.ispartofseries emv : Internationale Fachmesse und Kongress für Elektromagnetische Verträglichkeit, Köln, 2020
dc.rights CC BY 3.0 DE
dc.rights.uri https://creativecommons.org/licenses/by/3.0/de/
dc.subject Transceiverpin ger
dc.subject DC/DC-Wandler ger
dc.subject Substratextraktor ger
dc.subject.classification Konferenzschrift ger
dc.subject.ddc 600 | Technik ger
dc.subject.ddc 621,3 | Elektrotechnik, Elektronik ger
dc.title Modellierung und Messung von Emissionen an Transceiverpins in Automotive-System-ICs, verursacht durch integrierte DC/DC-Wandler ger
dc.type BookPart
dc.type Text
dc.relation.isbn 978-3-86359-826-6
dc.bibliographicCitation.firstPage 365
dc.bibliographicCitation.lastPage 374
dc.description.version publishedVersion
tib.accessRights frei zug�nglich


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